接触式芯片高低温冲击测试设备

接触式芯片高低温冲击测试设备测试周期优化与自动化协同技术分析

2025/08/27 210

在半导体芯片可靠性测试体系中，高低温冲击测试是验证芯片在剧烈温度变化下性能稳定性的关键环节，其测试周期直接影响芯片研发进度与量产效率。接触式芯片高低温冲击测试设备既保障测试数据可靠性，又提升测试效...

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