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芯片温度控制的元器件怎么用万用表检测

芯片温度控制装置是用于芯片、半导体、集成电路等元器件中的,那么,对于这些常用的元器件怎么用万用表进行检测呢?

芯片温度控制

电子元器件的变压器、偏转线圈、补偿电感等,由于导线绕制的感性元件阻值都很低,对它们的短路性故障很难测出来;开路性故障则取决于测试该元件二端的阻值应大于本身的正常值(需要事先了解其阻值或找一个同型号元件测试后比较)。测试正反向电阻应符合PN结规律,万用表值低阻挡(R×10或R×100),当二极管与电容并联时,由于电容器充放电作用,测试时需稍等片刻,待其阻值稳定后才能正确判断;但当二极管与电感线圈并联时,由于电感线圈电阻值很小,这是在路测试是无效的。

测试三极管电子元器件的e-b或b-c极间的正反向电阻依然要符合PN结的测试规律,而测量e-c之间的正反向电阻值差别要小一些。测大功率管用R×100或R×1K挡。应注意的是,晶体管在路情况比较复杂,而只有PN结确实击穿或断路时,才能见分晓,当两极间并联元件阻值过低,则需断开一极检测才有效。

测试电子元器件电阻阻值所测结果必须小于或等于该电阻的标称值(从电阻外观看出或看原理图上的标志),如果大于标称值说明该电阻已损坏。若是电位器或半可调电阻,可用万用表一端接电位器动点,另一端接任一点,转动轴柄,其阻值应该有变化,测出的阻值也应该小于或等于标称电阻值。

如果电容二端无短路性元件(如电感线圈等),其二端的阻值应大于零,并且测容量较大的电容时应有充放电现象,否则说明电容已击穿或失效。

元器件在利用万用表进行检测可以判断其好坏,这样可以提高元器件的检修速度,也有利于芯片温度控制装设备在测试工作中的有效运行。(注:本来部分内容来百度学术相关论文,如果侵权,请及时联系我们进行删除,谢谢。)

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