芯片温度控制的元器件怎么用万用表检测

芯片温度控制装置是用于芯片、半导体、集成电路等元器件中的，那么，对于这些常用的元器件怎么用万用表进行检测呢？

电子元器件的变压器、偏转线圈、补偿电感等，由于导线绕制的感性元件阻值都很低，对它们的短路性故障很难测出来；开路性故障则取决于测试该元件二端的阻值应大于本身的正常值（需要事先了解其阻值或找一个同型号元件测试后比较）。测试正反向电阻应符合PN结规律，万用表值低阻挡（R×10或R×100），当二极管与电容并联时，由于电容器充放电作用，测试时需稍等片刻，待其阻值稳定后才能正确判断；但当二极管与电感线圈并联时，由于电感线圈电阻值很小，这是在路测试是无效的。

测试三极管电子元器件的e-b或b-c极间的正反向电阻依然要符合PN结的测试规律，而测量e-c之间的正反向电阻值差别要小一些。测大功率管用R×100或R×1K挡。应注意的是，晶体管在路情况比较复杂，而只有PN结确实击穿或断路时，才能见分晓，当两极间并联元件阻值过低，则需断开一极检测才有效。

测试电子元器件电阻阻值所测结果必须小于或等于该电阻的标称值（从电阻外观看出或看原理图上的标志），如果大于标称值说明该电阻已损坏。若是电位器或半可调电阻，可用万用表一端接电位器动点，另一端接任一点，转动轴柄，其阻值应该有变化，测出的阻值也应该小于或等于标称电阻值。

如果电容二端无短路性元件（如电感线圈等），其二端的阻值应大于零，并且测容量较大的电容时应有充放电现象，否则说明电容已击穿或失效。

元器件在利用万用表进行检测可以判断其好坏，这样可以提高元器件的检修速度，也有利于芯片温度控制装设备在测试工作中的有效运行。（注：本来部分内容来百度学术相关论文，如果侵权，请及时联系我们进行删除，谢谢。）